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Schubert, Mathias: Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures (Buch)

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Produktbeschreibung

Erscheinungsdatum: 26.11.2004; Medium: Buch; Einband: Gebunden; Titel: Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures; Titelzusatz: Phonons, Plasmons, and Polaritons; Auflage: 2004; Autor: Schubert, Mathias; Verlag: Springer-Verlag GmbH // Springer Berlin; Sprache: Englisch; Schlagworte: Dünnschicht // Halbleiter // Physik // Optik // Elektrizität // Elektromagnetismus // Magnet // physikalisch // Magnetismus // Oberfläche // Ingenieurwissenschaft // Ingenieurwissenschaftler // Maschinenbau // Materialwissenschaft // Elektrogerät // Elektronik // Gerät // Laser // Chemie // Physikalische Chemie // Optische Physik // Magnetismus und Elektromagnetismus // Ingenieurswesen // Maschinenbau allgemein // Elektronische Geräte und Materialien // Lasertechnik und Holographie; Rubrik: Elektrizität // Magnetismus, Optik; Seiten: 193; Abbildungen: 77 illustrations; Reihe: Springer Tracts in Modern Physics (Nr. 209); Informationen: Book; Gewicht: 476 gr; Verkäufer: averdo

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